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常州安柏AT5130 多路電阻測(cè)試儀概述 AT5130是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)30路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示30路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5130可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，大顯示30,000數(shù)

常州安柏AT516L 直流電阻測(cè)試儀概述 AT516L直流電阻測(cè)試儀，采用高性能 ARM 微處理器控制和高密度SMD貼裝工藝，具有 0.1%的準(zhǔn)確度和 1μΩ~30KΩ的測(cè)量范圍。電阻值以5位顯示，具有 30000 讀數(shù)，

常州安柏AT518L 手持直流低電阻測(cè)試儀概述 AT518L手持直流低電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程，采用高性能32位ARM微處理器控制的便攜手持儀器，內(nèi)置大容量鋰電池在任何場(chǎng)合可長(zhǎng)時(shí)間實(shí)現(xiàn)對(duì)無源元件進(jìn)行精確而便捷的測(cè)量 。

常州安柏AT2511 直流電阻測(cè)試儀概述 AT2511是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的直流低電阻測(cè)試儀，是AT511A的升級(jí)版本。 AT2511相對(duì)于前代產(chǎn)品AT511A，具有更廣的測(cè)試范圍：0.01mΩ～200.0kΩ，大顯示5000數(shù) 。同時(shí)提升了測(cè)試速度：較快可達(dá)10次/秒且讀數(shù)穩(wěn)定。改良的全自動(dòng)量程測(cè)試電路，全電子開關(guān)的設(shè)計(jì)，可瞬間完成從高量程到低量程的切換

常州安柏AT518 手持直流低電阻測(cè)試儀概述 AT518手持直流低電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型手持式儀器，在任何場(chǎng)合可長(zhǎng)時(shí)間實(shí)現(xiàn)對(duì)無源元件進(jìn)行精確而便捷的測(cè)量 。 儀器可以測(cè)試10μΩ～20MΩ的電阻， 大顯示數(shù)20000數(shù)。它獨(dú)有的電流測(cè)試模式可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。